文章詳情
覆層測厚儀工作原理
日期：2025-07-02 21:38
瀏覽次數(shù)：155
摘要：覆層測厚儀工作原理
覆層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
測厚方法
播報(bào)
編輯
磁性測厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳...
覆層測厚儀工作原理
覆層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
測厚方法
播報(bào)
編輯
磁性測厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高。
渦流測厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。
超聲波測厚法
國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價(jià)格昂貴、測量精度也不高。
電解測厚法
此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。
放射測厚法
此種儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場合。
光熱測厚法
光熱測厚法
基于先進(jìn)的熱光學(xué)技術(shù)(ATO)和數(shù)字信號處理技術(shù)(DSP)，涂魔師實(shí)現(xiàn)獨(dú)有的非接觸式涂層無損測厚技術(shù)。
該系統(tǒng)通過計(jì)算機(jī)控制光源以脈沖方式加熱待測涂層，其中內(nèi)置的高速紅外探測器從遠(yuǎn)處記錄涂層表面溫度分布并生成溫度衰減曲線。表面溫度的衰減時(shí)間取決于涂層厚度及其導(dǎo)熱性能。*后利用專門研發(fā)的算法分析表面動態(tài)溫度曲線計(jì)算測量待測的涂層厚度。
覆層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
測厚方法
播報(bào)
編輯
磁性測厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高。
渦流測厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。
超聲波測厚法
國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價(jià)格昂貴、測量精度也不高。
電解測厚法
此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。
放射測厚法
此種儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場合。
光熱測厚法
光熱測厚法
基于先進(jìn)的熱光學(xué)技術(shù)(ATO)和數(shù)字信號處理技術(shù)(DSP)，涂魔師實(shí)現(xiàn)獨(dú)有的非接觸式涂層無損測厚技術(shù)。
該系統(tǒng)通過計(jì)算機(jī)控制光源以脈沖方式加熱待測涂層，其中內(nèi)置的高速紅外探測器從遠(yuǎn)處記錄涂層表面溫度分布并生成溫度衰減曲線。表面溫度的衰減時(shí)間取決于涂層厚度及其導(dǎo)熱性能。*后利用專門研發(fā)的算法分析表面動態(tài)溫度曲線計(jì)算測量待測的涂層厚度。
