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測(cè)厚儀的知識(shí)簡(jiǎn)述

日期:2025-07-05 18:58
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摘要: 涂層測(cè)厚儀及超聲波測(cè)厚儀的知識(shí)簡(jiǎn)述: 1、基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn) 基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。 2、基體金屬厚度 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大...


涂層測(cè)厚儀及超聲波測(cè)厚儀的知識(shí)簡(jiǎn)述:


1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)

基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

2、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

3、邊緣效應(yīng)

儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

4、 曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

5、試件的變形

測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù)。

6、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

7、附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須**附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

8、 測(cè)頭壓力

測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。

9、測(cè)頭的取向

1.測(cè)厚儀原理--簡(jiǎn)介

測(cè)厚儀,英文名稱為thickness gauge ,是一類用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表,在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度。測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度**測(cè)量。

接下來(lái)小編為大家介紹幾種常見(jiàn)測(cè)厚儀的原理,希望對(duì)親們理解測(cè)厚儀有一定的幫助!

2.測(cè)厚儀原理--激光測(cè)厚儀

激光測(cè)厚儀:此類測(cè)厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。

3.測(cè)厚儀原理--X射線測(cè)厚儀

X射線測(cè)厚儀:此類測(cè)厚儀利用的是當(dāng)X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線強(qiáng)度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。

4.測(cè)厚儀原理--超聲波測(cè)厚儀

超聲波測(cè)厚儀:這種測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射的原理來(lái)對(duì)物體厚度進(jìn)行測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖會(huì)發(fā)生反射而返回探頭,通過(guò)**測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間,來(lái)計(jì)算被測(cè)材料的厚度。

5.測(cè)厚儀原理--涂層測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀:主要采用的是電磁感應(yīng)法來(lái)測(cè)量涂層的厚度。涂層測(cè)厚儀會(huì)在部件表面的探頭處產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,伴隨著探頭與鐵磁性材料之間距離的變化,該磁回路將會(huì)發(fā)生不同程度的改變,因此會(huì)引起磁阻及探頭線圈電感的變化。

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